立式光学计
纳米级数显测量比较仪 JDS-2

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纳米级数显测量比较仪 JDS-2

本仪器由传感器、测量支架、专用计算机三部份组成。此处的专用计算机也就是数据采集显示箱。仪器工作时,专用计算机可以通过传感器把位移数据采集到存储器内,并进行处理和显示。此外专用计算机还可以通过USB电缆与PC兼容计算机连接,互通数据。这样PC计算机可以作为仪器...

详细介绍 技术参数

■产品精度

1.示值误差: ±(0.020+0.005A)um

2.示值范围:≥200

3.适应工作:二等传三等

■仪器成套性

1.Z0.5-28P传感器

2.WS16DP-1数显箱

3.DELL台式计算机

4.19寸液晶显示器

5.黑白激光打印机、

6.USB485TTL通讯电缆、

7.数据通讯和处理软件,

8.岩石测量支架

9带筋锆瓷主工作台(换球筋加价300元)。  
  

注:根据检定规程,100mm以上的量块,需要用测长机卧姿测量,所以LK500只用于没有测长机的单位,对150mm以上的量块,只能4等传5等。